準備工作(10)(20250208)


基板上のトランジスタがお亡くなりになっているかどうかを調べたり、お亡くなりになっている場合に取り外したりするのは、何かと大変。なので、できれば、事前に調べたい。
フツーのテスターでも調べられる、とゆーご意見もあるけど、どのように調べるのか、よく分からない。なので、トランジスタテスターを作ってみた。
写真 トランジスタテスター

回路図はこれ。チョー簡単。
トランジスタのB:ベース、C:コレクタ、E:エミッタをそれぞれソケットの1、2、3に刺して、スイッチを押す。
図 トランジスタテスターの回路図

点灯すれば、お亡くなりになっていない。
写真 トランジスタテスター

点灯しなければ、お亡くなりになっている。
あと、スイッチを押す前に点灯すれば、やはりお亡くなりになっている。
写真 トランジスタテスター

30年以上前に読んだ本には、「トランジスタは熱に弱いので、過熱防止のために、ハンダ付けをする時には、脚にクリップなどを付けろ」と書いてったけど、聞くところによると、今は、トランジスタを含む半導体の材料が熱に強くなっているらしく、それほどでもないみたいだ。
表 半導体材料の耐熱性
種類 最大接合温度
[度C]
耐熱性 用途
Ge: ゲルマニウム 75〜100 低い。
Si: シリコン 50〜200 比較的高い。 広範な用途。
GaN: ガリウムナイトライド(窒化ガリウム) 250〜400 高い。 高周波および高効率電力。
SiC: シリコンカーバイド(炭化シリコン) 500〜600+ 極めて高い。 電力素子や厳しい環境。

でも、配線を間違って、抵抗を通さずにB-E間やC-E間に荷電したり、ハンダ付けを長々したりすると、さすがにガマンの限度を越えるわけだ。
なので、やっぱり、こーゆーテスターは必要だよな。いや、マジで便利。もっと早く作ればよかった。
と悦に入っていると、ふと気付いた。そーゆーテスターって売ってるんじゃね?がちょーん。
写真 多機能(マルチファンクション)テスターTC-1

お亡くなりになっていないトランジスタだと、種類や特性が表示され、
写真 多機能テスターTC-1

お亡くなりになっているトランジスタだと、抵抗になり果てたと表示される。
写真 多機能テスターTC-1

トランジスタだけじゃなくて、ダイオードやコンデンサなどのいろいろな部品も測れて、しかも3000円もしなくて安い。スゲー。
早く言ってよ、もぅ。


トップ /前ページ /次ページ